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OCTRAM使用圆柱形InGaZnO垂直晶体管(图1)作为单元晶体管。该设计可实现4F2 DRAM的适配,与传统的硅基6F2 DRAM相比,在内存密度方面具有显著的优势。
通过器件和工艺优化(图2),InGaZnO垂直晶体管可实现超过15微安/单元的高导通电流 (1.5 x 10-5安/单元)和低于1绝对安培/单元的超低关断电流 (1.0 x 10-18安/单元)。在OCTRAM结构中,InGaZnO垂直晶体管被集成在高深宽比电容器(电容器优先工艺)的顶部。这种安排允许对先进电容器工艺和InGaZnO性能之间的相互作用进行解耦(图3)。
*1: InGaZnO是In(铟)、Ga(镓)、Zn(锌)和O(氧)的化合物
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图1:InGaZnO垂直晶体管的横截面TEM图像(照片:美国商业资讯)
图2:开发出的InGaZnO晶体管的(a)导通和(b)关断电流特性(图示:美国商业资讯)
图3:OCTRAM全景视图(照片:美国商业资讯)